GaN DHTOL動態(tài)高溫壽命老化測試
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GaN DHTOL動態(tài)高溫壽命老化測試
對GaN MOS施加規(guī)定溫度、電壓、電流、開關頻率對器件進行動態(tài)HTOL篩選
Vds電壓范圍0～650v，Ids電流范圍0.1～3A，Vds程控，Ids通過老化板電阻設置
電壓電流應力交替頻率范圍是10kHz~500kHz，占空比范圍范圍2~50%
通（電流應力）狀態(tài)，柵級電壓可設置范圍是3~15V，關斷（電壓應力）狀態(tài)，柵級電壓可設置范圍是-10~-1V
殼溫溫度檢測和控制范圍0~200℃，可配置熱板平臺環(huán)境，RDSON檢測范圍1mΩ~160mΩ，可生成殼溫、RDSON數(shù)據(jù)報表
上一個：
被動循環(huán)