動態(tài)高溫柵偏老化測試
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動態(tài)高溫柵偏老化測試
DS兩端短接，對柵偏電壓GS兩端進(jìn)行高速周期正負(fù)柵
壓沖擊,并配置熱基板環(huán)境
柵偏電壓設(shè)置范圍-15~30V，正負(fù)柵壓切換頻率5K~100KHz,
占空比20%~80%
系統(tǒng)最多可以配置28個老化區(qū)，每個區(qū)最多6個工位
柵級電壓上升壓擺率≥1V/nS
關(guān)閉動態(tài)測試，測試靜態(tài)柵偏漏電，漏電檢測能力1nA~100uA
Vgs(th)測試范圍1~10V
可生成柵偏電壓、漏電數(shù)據(jù)、Vgs(th)和熱板溫度數(shù)據(jù)報表
上一個：
動態(tài)高溫反偏老化測試
下一個：
超聲焊接設(shè)備