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SiC DHTOL動(dòng)態(tài)高溫壽命老化測試

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SiC DHTOL動(dòng)態(tài)高溫壽命老化測試

對SIC MOS施加規(guī)定溫度、電壓、電流、開關(guān)頻率對器件進(jìn)行動(dòng)態(tài)HTOL篩選

Vds電壓設(shè)置范圍是0~1200V,Ids測量電流0.1A~30A,Vds電壓通過軟件程控設(shè)置,Ids電流通過老化板限流電阻設(shè)置

電壓電流應(yīng)力交替頻率范圍是10kHz~300kHz,占空比范圍范圍2~50%

導(dǎo)通(電流應(yīng)力)狀態(tài),柵級電壓可設(shè)置范圍是3~15V,關(guān)斷(電壓應(yīng)力)狀態(tài),柵級電壓可設(shè)置范圍是-15~-1V

殼溫溫度檢測和控制范圍0~200℃,可配置熱板平臺環(huán)境

RDSON檢測范圍1mΩ~160mΩ

可生成殼溫、RDSON數(shù)據(jù)報(bào)表